Interesante artículo publicado en un journal de IEEE (Julio-Agosto de 2004) donde Martin Stytz y James Whittaker explican la razón de porque los fallos de seguridad son más difíciles de encontrar que los fallos funcionales.
Pueden descargar este artículo de manera gratuita desde http://tinyurl.com/2jrmph (PDF, 81.3 KB)